高低溫試驗箱產(chǎn)品具有模擬大氣環(huán)境中溫度變化規律。主要針對于電工，電子產(chǎn)品，以及其元器件及其它材料在高溫，低溫綜合環(huán)境下運輸，使用時(shí)的適應性試驗。高低溫試驗箱適用于工業(yè)產(chǎn)品高低溫的可靠性試驗，是對電子電工、汽車(chē)摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高、低溫交變循環(huán)變化的情況下，檢驗其各項性能指標。

    高低溫試驗箱的溫度校準有以下方法，在實(shí)際工作中需要根據實(shí)際情況選擇最合適的方法，下面巴玖小編便對這幾種校準方法的優(yōu)缺點(diǎn)進(jìn)行介紹。

    一、在無(wú)負載條件下開(kāi)展校準：此方法的優(yōu)點(diǎn)是：高低溫試驗箱的整個(gè)工作區域都得到了校準、測試樣品變得更時(shí)不需要重新校準、能夠對高低溫試驗箱的適用性做出有效的評估。而它的主要缺點(diǎn)是：不能評估測試樣品對試驗箱所造成的影響。

    二、在有負載條件下開(kāi)展校準：此方法的優(yōu)點(diǎn)是：能夠比較準確地評估測試樣品對試驗箱性能的影響、易于得到測試樣品關(guān)鍵部件或部位的環(huán)境試驗的詳細信息。而它的主要缺點(diǎn)是：當更換測試樣品時(shí)，需要重新校準。

    三、在使用過(guò)程中的實(shí)時(shí)測量：此方法不僅具有1和2所述的方法具有的優(yōu)點(diǎn)，而且能夠得到測試樣品在環(huán)境試驗過(guò)程中全面的環(huán)境參數，往往在對環(huán)境要求很高的產(chǎn)品試驗時(shí)采用。它的主要缺點(diǎn)是：每次環(huán)境試驗都需要使用測量設備，通常在試驗箱校準時(shí)采用無(wú)負載條件下的校準方法，本文為了便于評估試驗箱的溫度性能，也采用了此方法進(jìn)行分析。